立手持式光譜儀X-MET8000系列在檢測(cè)高溫材料方面的應(yīng)用

材料可靠性識(shí)別（PMI）檢查有時(shí)需要測(cè)試高溫下的在用組件，例如管道，反應(yīng)容器等。不僅環(huán)境條件對(duì)用戶和儀器都提出了挑戰(zhàn)，所測(cè)試的合金通常還含有痕量水平的元素（例如Si，Mn，Cr，Cu）。這意味著用于合金檢測(cè)的儀器必須快速，堅(jiān)固，即使在這些惡劣條件下也能提供**性能。

手持式X射線熒光光譜儀（HHXRF）****的發(fā)展使我們能夠應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。

HITACHI HIGH-TECH獨(dú)特的高溫樣品分析解決方案：全新 HERO™（耐熱）窗口膜

日立高新設(shè)計(jì)了一個(gè)全新的保護(hù)性窗口膜，可以直接分析高達(dá)400oC的高溫樣品中的合金元素，包括硅等輕元素！

在測(cè)試高溫樣品時(shí)，用戶所要做的就是將正常的Prolene窗口膜換成HERO™窗口！ 不需要特殊的墊片或防護(hù)罩。

樣品制備

為確保準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果，應(yīng)清潔被測(cè)部件的表面。去除油漆、腐蝕和污垢時(shí)，建議使用配有鋯砂盤(pán)的角磨機(jī)。

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高溫樣品帶來(lái)了的挑戰(zhàn)：表面氧化速度非?？焖?，且高溫合金樣品的結(jié)構(gòu)在高溫與冷卻時(shí)不同，因此如果測(cè)量相同的熱或冷合金，可能會(huì)看到成分的差異。

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測(cè)量程序

為了在高溫條件下獲得**可靠性，操作X-MET8000（配有HERO™窗口膜）非常重要，如圖所示。

例如，如果測(cè)量200°C的樣品，則可以使用的**測(cè)量時(shí)間為20秒。如果測(cè)量20秒，則分析之間的最小冷卻時(shí)間為3分鐘；如果測(cè)量10秒鐘，冷卻時(shí)間減少到1.5分鐘（90秒）。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，溫度越高，測(cè)量時(shí)間越短，冷卻時(shí)間越長(zhǎng)。

性能

配備HERO™窗口膜的X-MET8000 Expert用于測(cè)試不同溫度下樣品的準(zhǔn)確度和精度。在室溫（22℃）下分析——系列參考低合金鋼樣品，然后將合金在爐中加熱，X-MET8000 Expert使用合金模式（LE FP分析，包括輕元素）在200，350和400℃下測(cè)試。

注意：在分析之前，樣品的表面沒(méi)有被研磨，以確保它們?cè)跍y(cè)試前不會(huì)冷卻。然而，加熱樣品表面上的嚴(yán)重氧化對(duì)硅（Si）結(jié)果具有顯著影響，其氧化水平隨溫度而增加。

樣品在室溫和200℃下分析20秒，在350和400℃下分析15秒。二次分析之間將分析儀在室溫下放置6分鐘冷卻。

結(jié)果表明，即使在高溫下和較短的測(cè)量時(shí)間，也可以可靠地確定合金元素的含量。由于樣品表面的變化，Si測(cè)量結(jié)果會(huì)有所不同。這是高溫樣品測(cè)試中的主要挑戰(zhàn)，因?yàn)檠趸^(guò)程在高溫下快速進(jìn)行。

總結(jié)

X-MET8000手持式分析儀為材料可靠性識(shí)別（PMI）檢測(cè)以及制造質(zhì)量保證提供快速可靠的材料識(shí)別和化學(xué)分析。借助Hitachi High-Tech獨(dú)特的HERO™窗口膜，X-MET可用于測(cè)試高達(dá)400°C的熱樣品，使用戶可以現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，并**限度地減少間隙時(shí)間。